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談到影像測(cè)量?jī)x，人們比較熟悉，因?yàn)樗羌庸ば袠I(yè)中的一種測(cè)量?jī)x器。如果您需要測(cè)量一個(gè)較小的、復(fù)雜表面的工件，圖像測(cè)量器是很好的選擇，但您能知道在驗(yàn)收設(shè)備和檢查設(shè)備時(shí)，哪些參數(shù)要被記錄下來(lái)？
以下就為大家普及一下。
我們實(shí)驗(yàn)室里有一臺(tái)成像儀器。
影像測(cè)量?jī)x
光影測(cè)量?jī)x器校準(zhǔn)規(guī)范于2011年11月14日發(fā)布，并于2012年2月14日開(kāi)始實(shí)施。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于在平面直角坐標(biāo)下的圖像測(cè)量?jī)x。同時(shí)還引述了幾何量測(cè)量設(shè)備標(biāo)定中不確定度評(píng)定指南及影像測(cè)量?jī)x驗(yàn)收監(jiān)測(cè)。
這些參數(shù)中較重要的參數(shù)都需要熟悉。
1.影像測(cè)量?jī)x(Exy)平面上的尺寸測(cè)量誤差(Exy)：該測(cè)量誤差表示產(chǎn)品或樣品放置在影像測(cè)量平面上的任何方向，二維尺寸測(cè)量值誤差。
2.影像測(cè)量?jī)xZ軸上的尺寸測(cè)量誤差(Ez)：該誤差表示垂直于影像測(cè)量平面方向，單軸方向測(cè)量所產(chǎn)生的誤差。
3.成像測(cè)量?jī)x測(cè)量頭的尺寸誤差(Ev)：在成像視場(chǎng)范圍內(nèi)，對(duì)任意平面尺寸的示值誤差不進(jìn)行平臺(tái)運(yùn)動(dòng)。
4.影像測(cè)量?jī)x測(cè)量各個(gè)部分的一致性(Ec)：一個(gè)影像測(cè)量?jī)x在光軸的不同部分進(jìn)行測(cè)量時(shí)，在XY平面上，圖像測(cè)量?jī)x在每一截面坐標(biāo)原點(diǎn)投影與XY平面的相似性，即影像測(cè)量?jī)xZ軸和XY水平面之間的垂直度，也能反映出不同高度上測(cè)量頭圖像測(cè)量特征的一致性。
5.影像測(cè)量?jī)x二維檢測(cè)誤差(P2D)：用影像測(cè)量?jī)x測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)圓周半徑變化幅度。
6.圖像測(cè)量?jī)x測(cè)頭的檢測(cè)誤差(PV)：使用圖像測(cè)量?jī)x在視場(chǎng)范圍內(nèi)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)圓周半徑變化幅度。
7.影像測(cè)量?jī)x的可變探測(cè)誤差(Pz)：在不同倍率下，用影像測(cè)量?jī)x測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)圓心坐標(biāo)的變化幅度。
近幾年來(lái)，光學(xué)成像測(cè)量?jī)x器在制造業(yè)中的廣泛應(yīng)用與人們的生活息息相關(guān)，行業(yè)呈現(xiàn)迅速發(fā)展的態(tài)勢(shì)，國(guó)內(nèi)光學(xué)成像儀器行業(yè)市場(chǎng)也在不斷兼并和整合中提速，產(chǎn)品產(chǎn)量大，增長(zhǎng)幅度明顯；低檔次產(chǎn)品已處于產(chǎn)能過(guò)剩狀態(tài)，而高檔次產(chǎn)品品種少、門類多，且性能與國(guó)外產(chǎn)品有明顯差距。
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